Méthode RBS

La méthode RBS est une méthode d'analyse par faisceau d'ions très utilisée en science des matériaux et auprès de l’accéloérateur AGLAE. Elle porte le nom du grand physicien néo-zélandais Ernest Rutherford et constitue une application de l’expérience qui lui permit de démontrer en 1903 l’existence du noyau atomique. RBS signifie Rutherford Backscattering Spectrometry, en français « Spectrométrie de rétrodiffusion Rutherford ».

Le faisceau d’ions accélérés à une énergie de quelques MeV est dirigé sur l’échantillon à analyser. Il est composé de protons ou de noyaux d’hélium (particules α). Un ensemble de lentilles électromagnétiques focalise le faisceau au niveau de l’échantillon à un diamètre de l’ordre de quelques microns. En raison de cette concentration du faisceau, on parle de microsonde nucléaire.

La méthode RBS consiste à compter le nombre d’ions projectiles qui rebondissent vers l’arrière lorsqu’ils sont repoussés par le champ électrique des noyaux cibles de l’échantillon. Des détecteurs capables de compter les projectiles rétrodiffusés et de mesurer leur énergie de recul sont disposés à un angle de diffusion choisi généralement dans la gamme 150-170° par rapport à la direction du faisceau. Même avec des intensités suffisamment faibles pour ne pas endommager l’échantillon, les faisceaux contiennent des milliards d’ions projectiles, si l’on se souvient du nombre d’Avogadro. Les détecteurs compteront en peu de temps des milliers d’ions rétrodiffusés.

Pour un angle donné, l'énergie des ions diffusés est caractéristique de la masse du noyau cible. Plus le noyau est lourd, plus cette énergie est élevée et surtout plus la probabilité d’observer ce recul est importante car elle varie comme le carré de la charge électrique Z du noyau. La technique est donc appropriée à l'analyse des éléments intermédiaires ou lourds dans un matériau léger

Comme les rayons alpha de la radioactivité, les ions accélérés ont un très court parcours dans la matière qui dépend de l’énergie d’accélération. L'analyse ne concerne que la partie superficielle du matériau (quelques microns au plus) comme la couche de peinture d’un tableau, une fine dorure. Le spectre obtenu avec une cible épaisse présente une forme particulière constituée de marches successives ayant un front à une énergie caractéristique de chaque élément constitutif et une hauteur en première approximation proportionnelle à la concentration atomique de l'élément.

Le spectre RBS fournit aussi une information sur la distribution en profondeur des éléments constitutifs de la cible, du fait de la perte d'énergie de l'ion incident dans le trajet aller et de celle de l'ion diffusé lors du trajet retour. Pour interpréter ces spectres et tenir compte de ces ralentissements, les physiciens disposent de tables de données dans leurs codes de calcul.

Souvent on combine les analyses PIXE et RBS. La technique PIXE, extrêmement sensible, ne donne accès qu’à la mesure de la concentration en surface des éléments chimiques à partir du sodium (Z>10), même à l’état de traces. La mise en œuvre simultanée des techniques PIXE et RBS permet de relier les concentrations de surface d’éléments obtenues par PIXE à la densité de l'échantillon obtenue par RBS. On peut ainsi mesurer des concentrations d’éléments traces aussi minimes que quelques millionième de gramme par gramme (ppm).

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